OmniFluo900系列穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀是以穩(wěn)態(tài)熒光功能為基礎(chǔ)，瞬態(tài)熒光功能為主導(dǎo)的多功能熒光測(cè)試平臺(tái)。本系統(tǒng)采用高性能Omni-λ 系列影像校正單色/ 光譜儀、高亮度復(fù)色光源及多波長(zhǎng)單色光源、高靈敏度單光子探測(cè)器和大容量樣品室為核心部件，配合精心優(yōu)化的激發(fā)與發(fā)射光路設(shè)計(jì)，顯著地提高了熒光信號(hào)探測(cè)的靈敏度，純水拉曼信噪比可達(dá)10000:1 以上。

OmniFluo900系列穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀基本性能測(cè)試

光譜校正

由于樣品發(fā)出的熒光需要經(jīng)過透鏡、光譜儀等光學(xué)器件聚焦、分光，*終被探測(cè)器捕捉，而任何一個(gè)光學(xué)器件和設(shè)備對(duì)于不同波長(zhǎng)光的穿透率或反射率又各有不同。

為了去除光路中光學(xué)器件、設(shè)備對(duì)樣品發(fā)光相對(duì)強(qiáng)度的影響，需要進(jìn)行光譜校正，還原樣品真實(shí)的發(fā)光狀況。

（1）下圖為發(fā)射單色儀的光柵G1、光柵G2 校正曲線。

G1-1200g/mm，300nm 閃耀
G2-1200g/mm，500nm 閃耀

（2）下圖黃線為被測(cè)樣品熒光原始數(shù)據(jù)，藍(lán)線為被測(cè)樣品校正后的數(shù)據(jù)。將兩個(gè)光譜做對(duì)比，發(fā)現(xiàn)校正后的光譜峰值紅移的10nm，也就是說， 未經(jīng)校正的原始數(shù)據(jù)將真實(shí)的光譜藍(lán)移了10nm。

結(jié)論：校正光譜可以反映樣品的真實(shí)發(fā)光狀況，比如真實(shí)的發(fā)光峰位。對(duì)于有多個(gè)發(fā)光峰的樣品，校正后的光譜更準(zhǔn)確的給出了幾個(gè)不同發(fā)光峰之間的相對(duì)強(qiáng)度關(guān)系。

純水拉曼信噪比SNR ≥10000:1

樣品：純水
激發(fā)波長(zhǎng)：350nm 掃描步長(zhǎng)：1nm
發(fā)射掃描：380nm-450nm 積分時(shí)間：1s

Peak Signal@397nm=322411 Noise Signal@450nm=680

結(jié)論：?jiǎn)渭ぐl(fā)單發(fā)射設(shè)計(jì)的OmniFluo900 系列熒光光譜儀，純水拉曼信噪比可以輕松達(dá)到10000:1 以上。

汞燈的365nm 體現(xiàn)光譜儀高分辨率、高準(zhǔn)確度

測(cè)試對(duì)象：汞燈

發(fā)射掃描：360nm-370nm 積分時(shí)間：200ms

掃描步長(zhǎng)：0.05nm 重復(fù)次數(shù)：1 次

結(jié)論：OmniFluo900系列采用320 mm焦距影像校正型單色儀，*大程度上抑制像散，獲得出色的成像質(zhì)量。波長(zhǎng)調(diào)節(jié)采用步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)，*小掃描步長(zhǎng)為0.005 nm。配備1200刻線的光柵，光譜分辨率達(dá)到0.08nm，準(zhǔn)確度達(dá)到±0.2nm，重復(fù)精度±0.1nm。

樣品實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)

標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)試數(shù)據(jù)
樣品：Europium（銪），溶劑：硝酸

激發(fā)& 發(fā)射光譜測(cè)量：

激發(fā)光源：75W 氙燈 掃描步長(zhǎng)：1nm

激發(fā)光譜：激發(fā)掃描：250nm-530nm，發(fā)射波長(zhǎng)：592.3nm

發(fā)射光譜：激發(fā)波長(zhǎng)：393.5nm，發(fā)射掃描：500-750nm

熒光壽命測(cè)試：

樣品：Anthracene（蒽），溶劑：環(huán)己烷

激發(fā)& 發(fā)射光譜測(cè)量

熒光壽命測(cè)試：

稀土上轉(zhuǎn)換熒光測(cè)試

穩(wěn)態(tài)光譜：

壽命測(cè)試：

近紅外光譜測(cè)試數(shù)據(jù)
樣品：YAG:Er 晶體

激發(fā)光源：532nm 連續(xù)激光器 發(fā)射掃描：900-1400nm

壽命測(cè)試：

中紅外光譜測(cè)試數(shù)據(jù)、時(shí)間分辨發(fā)射光譜、變溫?zé)晒夤庾V、X 射線激發(fā)閃爍體的熒光光譜、量子產(chǎn)率測(cè)量、顯微光譜測(cè)試詳情請(qǐng)聯(lián)系我們獲取。